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Aurora Solar Technologies Inc. stärkt das wissenschaftliche Team, erweitert das Portfolio an geistigem Eigentum und gewinnt Kundenauftrag für F&E-Einrichtung

DGAP-News: Aurora Solar Technologies Inc. / Schlagwort(e): Auftragseingänge/Sonstiges Aurora Solar Technologies Inc. stärkt das wissenschaftliche Team, erweitert das Portfolio an geistigem Eigentum und gewinnt Kundenauftrag für F&E-Einrichtung 20.10.2020 / 16:18 Für den Inhalt der Mitteilung ist der Emittent / Herausgeber verantwortlich. North Vancouver, British Columbia. 20. Oktober 2020. Aurora Solar Technologies Inc. (TSXV: ACU) (das "Unternehmen") gibt die Stärkung des wissenschaftlichen Teams und des Portfolios an geistigem Eigentum des Unternehmens bekannt sowie eine Produktbestellung zur Verwendung in den Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten bestehender Kunden an Solarzellen und Modulen.

Aurora teilt mit, dass das Unternehmen kürzlich von einem bestehenden Kunden einen Auftrag für ein DM-110h zur Verwendung in deren Forschung und Entwicklung von Solarzellen und Modulen erhalten hat. Dieses System wird voraussichtlich bei der Entwicklung fortschrittlicher Solarzellenentwürfe für die weltweit vermarkteten Solarmodule der Kunden eingesetzt. (Solarzellen sind die zur Sonne ausgerichteten stromerzeugenden Teile der Solarmodule.)
 

Aurora hat kürzlich ihre Forschungs- und Entwicklungskapazitäten durch die Aufnahme von Divya Ananthanarayanan in unser Team gestärkt. Frau Ananthanarayanan führte ihre Studien für die Doktorarbeit (Ph.D.) zur Wechselwirkung von Infrarotlicht und diffundierten, strukturierten Silizium-Solarwafern (Solarzellen-Rohstoff) durch, der von Auroras DM-Familie der Infrarot-Reflektometrie-Messsysteme verwendeten wissenschaftlichen Methode. Ihre Arbeit geht in diesem Bereich neue Wege und zusammen mit Dr. Johnson Wong von Aurora entwickelte Frau Ananthanarayanan einen wissenschaftlichen Ansatz, der jetzt in der DM-Produktlinie angewendet wird, um die Messgenauigkeit zu erhöhen und unsere Möglichkeiten zur Messung qualitätskritischer Eigenschaften der Siliziumwafer in Echtzeit zu erweitern, wie z. B. die "Oberflächenkonzentration" des Emitter-Dotierstoffs, die bisher nur durch zerstörerische Offline-Tests beobachtet werden konnte.