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     206  0 Kommentare Yamaha Fine Technologies stellt mit "MP502/MP502-A" aus der Micro Prober MP-Reihe ein brandneues System zur Messung von Hochfrequenzeigenschaften vor

    Hamamatsu, Japan (ots/PRNewswire) - Yamaha Fine Technologies Co.,
    Ltd. (Hauptsitz: 283 Aoya-cho, Minami-ku, Hamamatsu; CEO: Yasuhiro
    Nakada) hat die Messinstrumente-Serie Micro Prober MP entwickelt, die
    fortlaufende Inspektionen der Hochfrequenzeigenschaften von
    Leiterplatten extrem schnell und extrem genau durchführen kann. Die
    ersten Produkte der Reihe, MP502 und MP502-A, kamen am Freitag, den
    18. Oktober auf den Markt.

    Bild: https://kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M102122/201910152
    096/_prw_PI1lg_i8o0t16s.jpg

    Die Produktion von Leiterplatten, bei denen für
    Hochfrequenzsignale geeignete Materialien wie LCP und MPI verwendet
    werden, haben den Markt für elektronische Leiterplatten in den
    letzten Jahren wachsen lassen, was auf den Start und die Verbreitung
    von 5G-Kommunikationsangeboten zurückzuführen ist. Dabei müssen diese
    Substrate bessere Frequenzeigenschaften aufweisen. Bis jetzt wurden
    die Prüfungen von Frequenzeigenschaften mit stichprobenartigen
    Inspektionen von Testplatten durchgeführt.

    Die neuen Systeme MP502 und MP502-A ermöglichen dagegen, in
    Kombination mit einem kommerziell verfügbaren vektoriellen
    Netzwerkanalysator, hoch präzise Hochgeschwindigkeits-Prüfungen der
    Hochfrequenzeigenschaften von echten Produktmustern. Damit sind
    Inspektionen von echten Produkten, bei denen das zuvor eher
    problematisch war, und die Messung sämtlicher relevanten, in
    Massenfertigung hergestellten Produkte möglich.

    Zusammenfassung

    - Erlaubt die Prüfung von Leiterplatten mit
    Hochgeschwindigkeitsübertragung während der Massenfertigung in
    Plattenform.
    - Hoch präzise Positionierung mit +-20 Mikrometern ermöglicht
    Inspektionen, die in hohem Maße wiederholbar sind
    - Unterstützt unabhängige höhere und niedrigere Positionierung zur
    Unterstützung von Multi-Layer-Substraten mit Prüfpunkten auf beiden
    Oberflächenseiten
    - Kann mit den neuesten vektoriellen Netzwerkanalysatoren, wie sie
    Hersteller von Messinstrumenten anbieten, kombiniert werden

    Produktinformationen:
    https://kyodonewsprwire.jp/img/201910152096-O2-RLMa2fc9

    Gerätekonfiguration: https://kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M1
    02122/201910152096/_prw_PI3lg_9W9The58.jpg

    Um die Produktspezifikationen im Detail zu lesen, gehen Sie bitte
    auf die Produkt-Website.

    https://www.yamahafinetech.co.jp/en/news/products/2019/00016/file/
    568/new_product_mp502_en.pdf

    OTS: Yamaha Fine Technologies Co., Ltd.
    newsroom: http://www.presseportal.de/nr/137441
    newsroom via RSS: http://www.presseportal.de/rss/pm_137441.rss2

    Pressekontakt:
    Satoshi Yamamoto
    Keishin Nagahata
    FA Business Division
    FA Sales Division
    +81-53-467-3601
    fa-info-ML@music.yamaha.com *Anfragen für Presseberichte oder für die
    Übersendung von PR-Material können hier gestellt werden: Website:
    https://www.yamahafinetech.co.jp/en/support/contact/



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