Teradyne fuehrt Mischsignal-Option fuer das INTEGRA J750 VLSI Test-System ein / Neue Mischsignal-Opt - 500 Beiträge pro Seite | Diskussion im Forum

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München - Teradynes Integra Test Division
kündigte eine neue Mixed-Signal Option (MSO) für das INTEGRA J750
VLSI Test-System an. Die Mischsignal-Option ermöglicht dem J750
analoge Signale - sowie auch die digitale Darstellung von analogen
Signalen - zu suchen, zu erfassen und zu analysieren. Das J750 mit
MSO kann Mischsignal ASICs mit Sprach-, Audio-, Baseband- und
Video-Testsignalanforderungen bis zu 20MHz Frequenzbereich prüfen.
Infineon Technologies wird der erste Kunde sein, der die MSO erhält,
um ihre EGOLD+ zu testen, ein hoch-integriertes Basebandtool mit
extrem niedrigen Stromverbrauch für Multiband Mobiltelefone. Rick
Nohelty, ITD Product Manager, sagte:" Das J750 war Infineons beste
Wahl für die Bereitstellung von Testwerkzeugen zum niedrigsten Preis,
die dem Unternehmen helfen werden, ihr Basebandgerät innerhalb der
erforderlichen Zeit auf den Markt zu bringen".

(Foto: http://www.newscom.com/cgi-bin/prnh/20000309/TERLOGO )

Die Integra Test Division hat einzigartige Software und Hardware
zum Testen von Einstiegs-Mischsignalgeräten erstellt. Eine neue
graphische Programmierumgebung wurde entwickelt, um den speziellen
Anforderungen des Testens von Mischsignal-Geräten gerecht werden zu
können. Die J750 Mixed Signal Option besteht aus einem Low-to-Mid
Frequency (LMF) Analog Source I/O Module (ASIO) und einem
begleitenden Digital I/O Module (DSIO). Beide liefern Testkanäle für
viele Geräte auf einem Modul, mit bis zu 32 Instrumenten oder
Standorten, die von dem J750 Testsystem unterstützt werden.

Nohelty sagte weiterhin: "Die eingebetteten Anwendungen von heute
werden immer komplexer und erfordern mehr Gerätefunktionalität zu
einem geringeren Preis. Mit dem höheren Grad der Integration kommt
die Notwendigkeit für eine wirtschaftlichere Testlösung. Das J750 mit
MSO bietet die Möglichkeit, Mischsignal-Mikrocontroller mit einer
eingebetteten Analog-Funktionalität an bis zu 32 Standorten parallel
zu testen. Die parallele Test-Technologie des J750 erhöht deutlich
den Durchsatz und erfüllt so die Voraussetzungen, die für diese Art
von Geräten erforderlich sind".

"Außerdem macht die auf Windows-basierte Softwareumgebung des J750
IG-XL es leichter, Mischsignal-Testprogramme zu erstellen und auch
einfacher, diese zu nutzen. IG-XL liefert kundenspezifische
Testschablonen, mit denen der Tester Hardwareaufbau vereinfacht und
automatisiert wird, um genaue Messungen durchzuführen. Testschablonen
und Softwaretools helfen, viele Aspekte des Testers zu verwalten, die
speziell für das Mischsignal-Testen sind".

Low-to-Mid-Frequency Analog Source I/O Module
Jedes ASIO bietet die folgenden Funktionen:
Analoge Quellen:
-- Vier (4) unabhängige, differentielle, arbiträre
Wellenformausgänge
-- Per Pin Measurement Units (PPMU) für paralleles, parametrisches
Testen
-- Selektierbare Quell-Bandweite
-- Primärspeicher und DSP pro Kanal

Analoge Erfassung:
-- Vier (4) unabhängige differentielle Digitalizer
-- PPMU für paralleles parametrisches Testen
-- Selektrierbare Erfassungsbandbreite
-- Dual-ported Erfassungsspeicher und DSP pro Kanal

Über ASIO:
-- Sechzehn (16) musterkontrollierte Relaistreiber und
Dienstprogramm-Bits
-- On-board 24-bit DC Messgerät
-- On-board Sequencer (einer per ASIO)

Digital I/O Module
Jedes DSIO Modul liefert zwei digitale Quell- und zwei digitale
Erfassungskanäle mit den folgenden Funktionen:
-- Zwei digitale Quellkanäle liefern serielle oder parallele Daten
-- 1x24-bit serielle oder bis zu 22-bit parallele Quelle bei 50MHz
-- 2x48-bit serielle oder bis zu 44-bit parallele Quelle bei 25MHz
-- Zwei digitale Erfassungskanäle liefern serielle oder parallele
Erfassung
-- Ein Erfassungskanal bietet serielle Erfassung
-- 1x24-bit serielle oder bis zu 22-bit parallele Erfassung bei
50MHz
-- 2x48-bit serielle oder bis zu 44-bit parallele Erfassung bei
25MHz

J750 High-Level Test Programming Environment
Test Elements und Test Procedures stellen ein neues
Testerstellungsmodell dar, für das eine graphische Sprache für das
Spezifizieren von Tests auf einer Ebene zwischen dem Code-basierten
Modell und dem Schablonen-basierten Modell benutzt wird. Testelemente
und Testverfahren liefern die Flexibilität und die Leistung, die
erforderlich sind, um Tests für Mischsignal-Geräte zu implementieren
und zu optimieren. Aufgrund seiner graphischen Beschaffenheit und den
Komfortfunktionen ist das Test Procedure Testerstellugnsmodell leicht
zu erlernen und leicht zu benutzen und ermöglicht Testingenieuren,
produktiver und schneller zu werden.

Preise
Das INTEGRA J750 mit MSO geht jetzt in den Versand und hat einen
Preis, der dem des J750 Modells entspricht, um die niedrigsten
Testgesamtkosten liefern zu können.

Das INTEGRA J750 Systems liefert bis zu 1.024 digitale Kanäle in
ein Null-Basisflächensystem, welches komplett in einem Testkopf
enthalten ist. Die Testfähigkeit mit hohem Durchsatz helfen, eine
95%ige Parallel-Testeffizienz für bis zu 32 Geräte zu liefern. Das
System bietet eine Palette von Optionen an: Converter Test Option,
Memory Test Option, Redundancy Analysis und Mixed Signal Option und
erfüllt so die Vielzahl der Testanforderungen auf dem VLSI
Marktsegment.

Das System unterstützt auch die IG-XL Testsoftware, das erste
Testentwicklungsprodukt der Halbleiter ATE-Branche, welches die
Leistungsfähigkeit und Stärke der aktuellen PC-Technologie und des
Windows NT Betriebssystems mit den bekannten Standard-Windows-tools,
wie Microsoft Excel und Visual Basic kombiniert. Der niedrige
Platzbedarf und der hohe parallele Test-Durchsatz bieten den
wirtschaftlichsten Ansatz für das Testen komplexer VLSI-Geräte mit
integrierten Speicher- und Analogzellen.

Über Teradyne
Teradyne ist die führende Firma für automatisiertes Testen in der
Welt und beliefert die Elektronik-, Kommunikations- und die
Softwareindustrie. Die Produkte und Services des Unternehmens richten
sich an die Testanforderungen einer breiten Palette von Halbleitern,
elektronischen Baugruppen, Telefon-Zugangsnetzwerken und
Softwareanwendungen. Teradyne ist auch ein führender Lieferant von
Backplane- und Schaltverbindungssystemen für die Elektronik- und
Kommunikationsbranche. Teradyne hat seinen Geschäftssitz in Boston,
Massachusetts. Das Unternehmen hatte 1999 einen Umsatz von USD 1,8
Milliarden und beschäftigt derzeit 7.500 Mitarbeiter in der ganzen
Welt. Die Aktien des Unternehmens werden an der New Yorker Börse
unter dem Symbol TER gehandelt. Die Internet-Adresse von Teradyne
lautet www.teradyne.com.


Rückfragen bitte an:
Samantha Sullivan, Marketing Communications von Teradyne, Tel.
001-781-999-8173, [e-mail]

Firmennachrichten auf Abruf:
http://www.prnewswire.com/comp/847750.html oder
Fax [phone], Durchwahl 847750

Foto: NewsCom: http://www.newscom.com/cgi-bin/prnh/20000309/TERLOGO
AP Archiv: http://photoarchive.ap.org
PRN Photo Desk, 001-888-776-6555 oder 001-201-369-3467

Website: http://www.teradyne.com

[Nachrichten [wO]]

<p><br> München - Teradynes Integra Test Division<br>kündigte eine neue Mixed-Signal Option (MSO) für das INTEGRA J750<br>VLSI Test-System an. Die Mischsignal-Option ermöglicht dem J750<br>analoge Signale - sowie auch die digitale Darstellung von analogen<br>Signalen - zu suchen, zu erfassen und zu analysieren. Das J750 mit<br>MSO kann Mischsignal ASICs mit Sprach-, Audio-, Baseband- und<br>Video-Testsignalanforderungen bis zu 20MHz Frequenzbereich prüfen.<br>Infineon Technologies wird der erste Kunde sein, der die MSO erhält,<br>um ihre EGOLD+ zu testen, ein hoch-integriertes Basebandtool mit<br>extrem niedrigen Stromverbrauch für Multiband Mobiltelefone. Rick<br>Nohelty, ITD Product Manager, sagte:" Das J750 war Infineons beste<br>Wahl für die Bereitstellung von Testwerkzeugen zum niedrigsten Preis,<br>die dem Unternehmen helfen werden, ihr Basebandgerät innerhalb der<br>erforderlichen Zeit auf den Markt zu bringen". <br><br> (Foto: http://www.newscom.com/cgi-bin/prnh/20000309/TERLOGO )<br><br> Die Integra Test Division hat einzigartige Software und Hardware<br>zum Testen von Einstiegs-Mischsignalgeräten erstellt. Eine neue<br>graphische Programmierumgebung wurde entwickelt, um den speziellen<br>Anforderungen des Testens von Mischsignal-Geräten gerecht werden zu<br>können. Die J750 Mixed Signal Option besteht aus einem Low-to-Mid<br>Frequency (LMF) Analog Source I/O Module (ASIO) und einem<br>begleitenden Digital I/O Module (DSIO). Beide liefern Testkanäle für<br>viele Geräte auf einem Modul, mit bis zu 32 Instrumenten oder<br>Standorten, die von dem J750 Testsystem unterstützt werden. <br><br> Nohelty sagte weiterhin: "Die eingebetteten Anwendungen von heute<br>werden immer komplexer und erfordern mehr Gerätefunktionalität zu<br>einem geringeren Preis. Mit dem höheren Grad der Integration kommt<br>die Notwendigkeit für eine wirtschaftlichere Testlösung. Das J750 mit<br>MSO bietet die Möglichkeit, Mischsignal-Mikrocontroller mit einer<br>eingebetteten Analog-Funktionalität an bis zu 32 Standorten parallel<br>zu testen. Die parallele Test-Technologie des J750 erhöht deutlich<br>den Durchsatz und erfüllt so die Voraussetzungen, die für diese Art<br>von Geräten erforderlich sind".<br><br> "Außerdem macht die auf Windows-basierte Softwareumgebung des J750<br>IG-XL es leichter, Mischsignal-Testprogramme zu erstellen und auch<br>einfacher, diese zu nutzen. IG-XL liefert kundenspezifische<br>Testschablonen, mit denen der Tester Hardwareaufbau vereinfacht und<br>automatisiert wird, um genaue Messungen durchzuführen. Testschablonen<br>und Softwaretools helfen, viele Aspekte des Testers zu verwalten, die<br>speziell für das Mischsignal-Testen sind". <br><br> Low-to-Mid-Frequency Analog Source I/O Module<br> Jedes ASIO bietet die folgenden Funktionen:<br> Analoge Quellen:<br> -- Vier (4) unabhängige, differentielle, arbiträre<br>Wellenformausgänge<br> -- Per Pin Measurement Units (PPMU) für paralleles, parametrisches<br>Testen<br> -- Selektierbare Quell-Bandweite<br> -- Primärspeicher und DSP pro Kanal<br><br> Analoge Erfassung:<br> -- Vier (4) unabhängige differentielle Digitalizer<br> -- PPMU für paralleles parametrisches Testen<br> -- Selektrierbare Erfassungsbandbreite<br>-- Dual-ported Erfassungsspeicher und DSP pro Kanal<br><br> Über ASIO:<br> -- Sechzehn (16) musterkontrollierte Relaistreiber und<br>Dienstprogramm-Bits<br> -- On-board 24-bit DC Messgerät<br> -- On-board Sequencer (einer per ASIO)<br><br> Digital I/O Module<br> Jedes DSIO Modul liefert zwei digitale Quell- und zwei digitale<br>Erfassungskanäle mit den folgenden Funktionen:<br> -- Zwei digitale Quellkanäle liefern serielle oder parallele Daten<br> -- 1x24-bit serielle oder bis zu 22-bit parallele Quelle bei 50MHz<br> -- 2x48-bit serielle oder bis zu 44-bit parallele Quelle bei 25MHz<br> -- Zwei digitale Erfassungskanäle liefern serielle oder parallele<br>Erfassung<br> -- Ein Erfassungskanal bietet serielle Erfassung<br> -- 1x24-bit serielle oder bis zu 22-bit parallele Erfassung bei<br>50MHz<br> -- 2x48-bit serielle oder bis zu 44-bit parallele Erfassung bei<br>25MHz<br><br> J750 High-Level Test Programming Environment<br>Test Elements und Test Procedures stellen ein neues<br>Testerstellungsmodell dar, für das eine graphische Sprache für das<br>Spezifizieren von Tests auf einer Ebene zwischen dem Code-basierten<br>Modell und dem Schablonen-basierten Modell benutzt wird. Testelemente<br>und Testverfahren liefern die Flexibilität und die Leistung, die<br>erforderlich sind, um Tests für Mischsignal-Geräte zu implementieren<br>und zu optimieren. Aufgrund seiner graphischen Beschaffenheit und den<br>Komfortfunktionen ist das Test Procedure Testerstellugnsmodell leicht<br>zu erlernen und leicht zu benutzen und ermöglicht Testingenieuren,<br>produktiver und schneller zu werden. <br><br> Preise<br> Das INTEGRA J750 mit MSO geht jetzt in den Versand und hat einen<br>Preis, der dem des J750 Modells entspricht, um die niedrigsten<br>Testgesamtkosten liefern zu können. <br><br> Das INTEGRA J750 Systems liefert bis zu 1.024 digitale Kanäle in<br>ein Null-Basisflächensystem, welches komplett in einem Testkopf<br>enthalten ist. Die Testfähigkeit mit hohem Durchsatz helfen, eine<br>95%ige Parallel-Testeffizienz für bis zu 32 Geräte zu liefern. Das<br>System bietet eine Palette von Optionen an: Converter Test Option,<br>Memory Test Option, Redundancy Analysis und Mixed Signal Option und<br>erfüllt so die Vielzahl der Testanforderungen auf dem VLSI<br>Marktsegment. <br><br> Das System unterstützt auch die IG-XL Testsoftware, das erste<br>Testentwicklungsprodukt der Halbleiter ATE-Branche, welches die<br>Leistungsfähigkeit und Stärke der aktuellen PC-Technologie und des<br>Windows NT Betriebssystems mit den bekannten Standard-Windows-tools,<br>wie Microsoft Excel und Visual Basic kombiniert. Der niedrige<br>Platzbedarf und der hohe parallele Test-Durchsatz bieten den<br>wirtschaftlichsten Ansatz für das Testen komplexer VLSI-Geräte mit<br>integrierten Speicher- und Analogzellen. <br><br> Über Teradyne<br> Teradyne ist die führende Firma für automatisiertes Testen in der<br>Welt und beliefert die Elektronik-, Kommunikations- und die<br>Softwareindustrie. Die Produkte und Services des Unternehmens richten<br>sich an die Testanforderungen einer breiten Palette von Halbleitern,<br>elektronischen Baugruppen, Telefon-Zugangsnetzwerken und<br>Softwareanwendungen. Teradyne ist auch ein führender Lieferant von<br>Backplane- und Schaltverbindungssystemen für die Elektronik- und<br>Kommunikationsbranche. Teradyne hat seinen Geschäftssitz in Boston,<br>Massachusetts. Das Unternehmen hatte 1999 einen Umsatz von USD 1,8<br>Milliarden und beschäftigt derzeit 7.500 Mitarbeiter in der ganzen<br>Welt. Die Aktien des Unternehmens werden an der New Yorker Börse<br>unter dem Symbol TER gehandelt. Die Internet-Adresse von Teradyne<br>lautet www.teradyne.com.<br><br><br>Rückfragen bitte an:<br>Samantha Sullivan, Marketing Communications von Teradyne, Tel.<br>001-781-999-8173, [e-mail]<br><br>Firmennachrichten auf Abruf: <br>http://www.prnewswire.com/comp/847750.html oder <br>Fax [phone], Durchwahl 847750<br><br>Foto: NewsCom: http://www.newscom.com/cgi-bin/prnh/20000309/TERLOGO<br>AP Archiv: http://photoarchive.ap.org<br>PRN Photo Desk, 001-888-776-6555 oder 001-201-369-3467<br><br>Website: http://www.teradyne.com<br><br></p>